一、手持式礦石樣品分析儀測量范圍:
Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pd,Ag,Cd,
Sn,Sb,Te,Cs,Ba,Hf,Ta,W,Re,Pt,Au,Hg,Pb,Bi,Th,U等。
測量礦種:各種金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦例如:鐵礦、銅礦、鋅礦、鈦礦、釩礦、鉻礦、錳礦、鈷礦、鎳礦、鉛礦、鉬礦、鎂礦、鋁礦、銀礦、金礦、鉑礦、硫礦、砷礦、硒礦等
二、手持式礦石樣品分析儀主要應(yīng)用
布魯克手持光譜儀主要分析礦體、礦塊、礦粉、礦渣、精礦、粗礦、尾礦;還可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥漿;粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層等。
三、手持式礦石樣品分析儀主要特性:
簡體中文界面
Windows 5.0操作系統(tǒng)
開機(jī)后不需校準(zhǔn)就可直接測量
采用布魯克技術(shù)的XFlash®SDD檢測器
分析元素zui小從Mg開始,達(dá)40多種。
分析范圍:ppm級至50%以上(與礦樣種類有關(guān))
實(shí)時分析數(shù)據(jù)和圖譜顯示
XRF軟件具有定性、定量分析功能,控制光管的電壓和電流,使測量范圍更廣
測量*無損,不受樣品形狀限制
儀器自動校準(zhǔn),自動存儲測量數(shù)據(jù),無需人工干預(yù)
主機(jī)一體化設(shè)計(jì),高強(qiáng)度密封,防水、防塵,抗沖擊
可選擇一鍵式定時測量
內(nèi)置Bruker專業(yè)操作軟件,計(jì)算和顯示速度快
儀器適應(yīng)高溫,低溫,潮濕,雨天、沙塵等惡劣環(huán)境
在開機(jī)狀態(tài)下長時間不測量時,儀器會自動進(jìn)入待機(jī)狀態(tài),以節(jié)省電源和保護(hù)儀器
X射線管耐用性強(qiáng),采用Peltier半導(dǎo)體恒溫制冷技術(shù)更增加了使用壽命
選配GPS定位系統(tǒng),可精確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖
萬能FP模式,適于各種礦石樣品,大大縮短現(xiàn)場工作時間。自動補(bǔ)償元素間干擾。
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